1.应用领域

本装置主要应用于半导体温差发电领域，热电器件的发电性能及其是否稳定可靠，是工程应用所关心的，评价热电件的性能（在不同温差下的开路电压、短路电流、内阻、及最大发电功率）及其在使用工况下的稳定性是热电器件研制过程中不可缺少。

2.技术特点

（1）采用自主设计的样品测试台可满足大多数非标热电器件性能评价 。

（2）采用自主开发的软件实现热源温度控制和I-V性能测试，控制热源温度变化模拟真实使用工况恒温热持久和高低温热循环，从而评价热电器件老化性能。

3.性能指标

（1）元件尺寸范围：15x15～50x50mm

（2）测试温度：室温～900℃

（3）高度尺寸：2～20mm

（4）压力范围：0～200Kg

（5）功率测试精度：±0.1W

（6）效率测试精度：±0.1%

4.当前状态

（1）目前国内尚无相关商品化设备，本实验室搭建了三台相关测试设备，测试样品包括Bi2Te3、CoSb3、Half-Heusler、GeTe、SiGe等样品，单样品单次测试时间超过5000小时，运行稳定可靠（2）本系统测试的数据发表在Science，Energy Environ.Sci.，Nat. Commun.，Adv. Energy Mater.，Joule期刊上，获得了广大专家学者的认可（3）为国内外机构提供器件评价（Hi-Z、Marlow、申和、纳米克、武汉理工、清华、高研院等） （4）编写了企业标准，尚未发布。